The impact of thin KF, NaF, K, and Na layers on CIGS studied with SPV and XPS/UPS

Parvan V., Mızrak A. V., ÜMSÜR B., Calvet W., Steigert A., Lauermann I., ...Daha Fazla

E-MRS Spring Meeting, Lille, Fransa, 2 - 06 Mayıs 2016

  • Yayın Türü: Bildiri
  • Basıldığı Şehir: Lille
  • Basıldığı Ülke: Fransa
  • Yozgat Bozok Üniversitesi Adresli: Evet