Synchrotron-based analysis of the Cu(In,Ga)Se2/CdS and Cu(In,Ga)Se2/ZnS interfaces using soft x-ray photoemission spectroscopy (SXPS) and near edge x-ray absorption fine structure spectroscopy (NEXAFS)

---

ÜMSÜR B., Calvet W., Höpfner B., Steigert A., Lauermann I., Lux-Steiner M. C.

International Conference on Solar Energy for World Peace, İstanbul, Türkiye, 17 - 19 Ağustos 2013

• Yayın Türü: Bildiri
• Basıldığı Şehir: İstanbul
• Basıldığı Ülke: Türkiye
• Yozgat Bozok Üniversitesi Adresli: Evet