Work Function Difference Measurements of Graphene, Graphite and SiO2 Surfaces using Kelvin Probe Force Microscope (KPFM)

Özkan N., Sonuşen S., Çelik Ü., Çetin H., Oral A.

NanoTR-6, 6th Nanoscience and Nanotechnology Conference, İzmir, Türkiye, 15 Haziran 2010, ss.1, (Özet Bildiri)

  • Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
  • Basıldığı Şehir: İzmir
  • Basıldığı Ülke: Türkiye
  • Sayfa Sayıları: ss.1
  • Yozgat Bozok Üniversitesi Adresli: Evet