Admittance behavior and dielectric loss mechanisms in Al/PANI–Silicene/n‑Si heterojunctions

Karaca A., Marıl E., Hussaini A. A., Yıldırım M., Taşaltın N., Yıldız D. E.

JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE: MATERIALS IN ELECTRONICS, cilt.37, sa.490, ss.1-18, 2026 (SCI-Expanded, Scopus)

• Yayın Türü: Makale / Tam Makale
• Cilt numarası: 37 Sayı: 490
• Basım Tarihi: 2026
• Doi Numarası: 10.1007/s10854-026-16902-z
• Dergi Adı: JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE: MATERIALS IN ELECTRONICS
• Derginin Tarandığı İndeksler: Scopus, Science Citation Index Expanded (SCI-EXPANDED), Chemical Abstracts Core, Compendex, INSPEC, MEDLINE
• Sayfa Sayıları: ss.1-18
• Yozgat Bozok Üniversitesi Adresli: Evet