Thickness dependent investigation of wedged Cu(In,Ga)Se2 films prepared by physical vapor deposition (PVD) using hard x-ray photoelectron spectroscopy (HAXPES)

Calvet W., ÜMSÜR B., Steigert A., Höpfner B., Lauermann I., Prietzel K., ...Daha Fazla

E-MRS Spring Meeting, Lille, Fransa, 26 - 30 Mayıs 2014

  • Yayın Türü: Bildiri
  • Basıldığı Şehir: Lille
  • Basıldığı Ülke: Fransa
  • Yozgat Bozok Üniversitesi Adresli: Evet