Depth profiled XPS analysis and NEXAFS study of Na, K-PDT on CIGSe as a function of deposition temperature using synchrotron radiation

Majumdar I., ÜMSÜR B., Heinemann M. D., Chacko B., Smirnov D., Calvet W., ...Daha Fazla

MSE Congress, Darmstadt, Almanya, 27 - 29 Eylül 2016

  • Yayın Türü: Bildiri
  • Basıldığı Şehir: Darmstadt
  • Basıldığı Ülke: Almanya
  • Yozgat Bozok Üniversitesi Adresli: Evet